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半導(dǎo)體分選行業(yè)的相關(guān)術(shù)語


2024-11-18 17:14

半導(dǎo)體分選行業(yè)的相關(guān)術(shù)語但不限于以下這些專業(yè)名詞:

1. ATE (Automatic Test Equipment):自動測試設(shè)備,用于檢測集成電路功能之完整性,是集成電路生產(chǎn)制造的最后一道流程,確保產(chǎn)品質(zhì)量。

2. DUT (Device Under Test):待測設(shè)備,通常指半導(dǎo)體行業(yè)中的電子元器件或芯片。

3. PIB (Prober Interface Board):探針接口板,用于在半導(dǎo)體器件封裝前的測量,與自動測試設(shè)備(ATE)之間建立電氣連接。

4. Handler:自動分選機,用于自動分類已測芯片的機器,必須與測試機相連接對接后進行測試。

5. Prober:探針臺,用于晶圓測試的機器,使測試信號通過探針或探針卡傳輸?shù)骄系母鱾€設(shè)備。

6. Pogo Tower:探針塔,是機械上精確排列的彈簧觸點,用于測試系統(tǒng)補償插入損耗和信號。

7. Docking:對接,指ATE測試設(shè)備中與Prober(探針臺)界面連接的那塊板的對接方式。

8. PCB (Printed Circuit Board):印制電路板,是電子元器件的支撐體,是電子元器件電氣連接的載體。

9. Probe Card (PC):探針卡,是晶圓測試中被測芯片和測試機之間的接口,用于對芯片電學性能進行初步測量。

10. Wafer:晶圓,由純硅(Si)構(gòu)成,是集成電路制作所用的硅晶片。

11. Die:晶粒或裸片,指尚未封裝的全功能芯片,一個晶圓由許多晶粒組成。

12. Chip:芯片,集成電路(IC)基本上是一種電子電路,它將許多不同的設(shè)備集成到一塊硅片上。

這些術(shù)語是半導(dǎo)體分選行業(yè)中的關(guān)鍵詞匯,對于理解行業(yè)技術(shù)、產(chǎn)品和流程至關(guān)重要。

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